O fluxo é uma parte muito importante do processo de soldagem de placas eletrônicas, sem ele a molhagem das superfícies da placa e do componente pela solda é impossível. No entanto o efeito do fluxo não é somente benigno. Em sua composição química estão presentes íons e ácidos orgânicos fracos que podem danificar a placa, caso presentes nela após o processo de montagem.Com o avanço da tecnologia no-clean, o processo de limpeza de placas após a montagem passou a ser algo raro. Realmente, insumos como pasta de solda e fluxo para soldagem por onda, caso utilizados de acordo com as instruções do fabricante geram resultados finais adequados do ponto de vista de contaminação iônica. No entanto ainda assim falhas, tais como curtos causados por migração iônica (Figura 1) ainda são comumente presentes em placas eletrônicas quando expostas a campo ou testes de estresse acelerado.
Figura 1 – curto causado por migração iônica
A presença destes resíduos pode ter diversas origens: parâmetros inadequados do equipamento, fluxo residual nos fornos, regiões localizadas da placa que não passaram por aquecimento suficiente, soldagem manual ou insumos de má qualidade. Por outro lado a identificação dos resíduos apenas por inspeção visual nem sempre é eficiente. A IPC determina, por norma, diversas maneiras para identificação de resíduos iônicos, e estabelece que para placas de grande confiabilidade a limpeza da placa deve ser testada.
Recentemente o LABelectron adquiriu um equipamento inovador para detecção de resíduos iônicos em placas eletrônicas e passa, a partir de agora, a oferecer à seus clientes mais um serviço para atestar a qualidade e confiabilidade de seus produtos. Este equipamento é o C3, “Critical Cleanliness Control”. Seu funcionamento foi inspirado por dois outros testes de limpeza de placas, o teste de Resistência Iônica de Superfície (SIR) e de Cromatografia Iônica. Este equipamento, revendido no Brasil pela empresa Surpass, possui condições de realizar a extração localizada dos contaminantes de superfície e testar a susceptibilidade dos mesmos à formação de curtos por migração iônica. Outra vantagem do equipamento é que o material extraído pode ser utilizado em um cromatógrafo para identificação e quantificação dos resíduos.
Figura 2 – C3, equipamento recentemente adquirido pelo LABelectron para identificação de resíduos iônicos em placas eletrônicas.
O ensaio é bastante rápido e é conclusivo com relação à presença de resíduos iônicos danosos na superfície de placas eletrônicas. Os resíduos iônicos quando encontrados durante, ou logo após o processo podem ser facilmente retirados utilizando um processo de limpeza, sem haver a necessidade de descartar as placas eletrônicas. No entanto caso os resíduos sejam detectados durante seu uso a durabilidade das placas já está comprometida, portanto o uso de testes de limpeza de placa são bastante indicados no desenvolvimento de novos produtos bem como para garantia da qualidade do processo.
Para maiores informações sobre contaminação iônica, entre em contato com o Engº José Carlos Boareto, responsável pela área de materiais do LABelectron ( Este endereço de e-mail está protegido contra spambots. Você deve habilitar o JavaScript para visualizá-lo. ou 48-3954-3000).