Seg, 30 de Janeiro de 2012 12:15

Célula de Competência com a Universidade de Binghamton – EUA apresenta seus primeiros resultados

A mais nova Célula de Competência do LABelectron junto ao Laboratório de Manufatura Avançada (APL) da empresa Universal Instruments e a Universidade do Estado de New York em Binghamton, nos Estados Unidos (Figura 1), completa seis meses de existência. Desde seu início, uma das ações estratégicas do LABelectron para consolidação deste modelo foi o envio da pesquisadora Arine Schmidt para esta cidade.


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Figura 1: Modelo da nova Célula de Competência entre LABelectron e as instituições americanas: Universal Instruments e Binghamton University.

A colaboradora vem participando em projetos junto ao núcleo de engenheiros do AREA Consortium (Figura 2), consórcio gerido pelo APL e financiado por cerca de 30 empresas líderes na indústria de manufatura eletrônica como HP, Ericson, Dell, Fundação CERTI, entre outras. O objetivo deste consórcio é gerar conhecimento aplicado para o desenvolvimento de produtos e para processos de manufatura, e por fim, compartilhar os conhecimentos adquiridos entre seus membros.

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Figura 2: Pesquisadora do LABelectron, Arine Schmidt, e engenheiro do APL, Michael Meilunas, em frente a câmera para realização de Ensaios Acelerados de Ciclagem Térmica

Os resultados dessa nova célula de cooperação vêm sendo alcançados por meio: da realização de projetos com foco em testes de confiabilidade, do constante intercâmbio de informações entre LABelectron e APL, pelo contato com empresas de referência mundial no setor seja por meio de projetos ou pelas reuniões trimestrais do AREA Consórcio. Dentre os projetos que estão sendo desenvolvidos com a participação da colaboradora do LABelectron, destacam-se:

Testes Acelerados de Ciclagem Térmica (ATC)

Dados acerca do tempo de vida de PCBs são importantes para o desenvolvimento de novos produtos. Este teste visa definir o tempo de vida de um determinado componente quando exposto a situações extremas de baixa e alta temperatura. Um dos projetos em andamento visa analisar o tempo de vida de placas com diferentes níveis de curvatura entre 0 a 2.2%, quando expostas a temperaturas entre -40⁰C e 125⁰C e “dwell time” de 10 minutos.
Já um segundo projeto visa analisar 30 placas de diferentes tipos de materiais também sob condições extremas de temperatura (Figura 3). Ambos os testes ainda estão e andamento, e os resultados dos mesmos estarão a disposição do LABelectron assim que forem finalizados.


Figura 3: Teste Acelerado de Ciclagem Técnica para análise comparativa de placas de diferentes materiais

Criação de uma base de dados

Um dos projetos finalizados pela colaboradora foi a criação de uma base de dados contendo todos os componentes testados pelo APL desde 2006. O objetivo é fornecer à indústria um banco de dados de fácil acesso e que contenha informações acerca de componentes, tipos de testes e tempo de vida. Ao todo foram catalogados cerca de 1000 componentes sujeitos a testes acelerados de ciclagem térmica, vibração, testes de queda, entre outros (Figura 4).


Figura 4: Banco de dados de componentes eletrônicos


Testes para Simulação de Queda

Dispositivos portáteis estão susceptíveis a queda e logo, para o desenvolvimento destes produtos é necessária a determinação do seu tempo de vida considerando o tipo e a frequência desta queda. Um primeiro projeto vem sendo realizado pelo APL para comparação de diferentes materiais sujeitos a um mesmo tipo de queda. Um segundo projeto procura analisar a formação de pad cratering em diferentes tipos de materiais quando sujeito a este teste. Já um terceiro projeto procura analisar a influência de diferentes variáveis de processo no tempo de vida do produto.

Caracterização de Placas e Componentes Eletrônicos

Os testes para caracterização de placas e componentes visam realizar uma análise detalhada das condições destes produtos, seja para qualificação segundo normas e especificações ou mesmo para caracterização destes componentes antes da realização de testes de confiabilidade. Análises de curvatura pela uso de Shadow Moire e utilização do equipamento de raio-X são alguns dos métodos utilizados para análise de placas e componentes (Figura 5).


Figura 5: Equipamento para análise por raio-X e para análise de curvatura, respectivamente.

Ainda, estão sendo realizados projetos de cooperação direta entre LABelectron e APL para análise de contaminação de PCB. Algumas amostras estão sendo coletadas e analisadas qualitativamente por equipamentos no LABelectron. Em seguidas as amostras estão sendo enviadas ao APL para realização de análise quantitativa por um Cromatógrafo Iônico. O objetivo é comparar e discutir os resultados obtidos em ambos os métodos. Os resultados deste projeto serão apresentados na próxima reunião dos membros do Consórcio que ocorrerá em março deste ano e contará com a presença de demais colaboradores/pesquisadores do LABelectron.
A participação da Fundação CERTI no consórcio AREA já está começando a produzir frutos e a trazer conhecimento avançado em processo e confiabilidade de placas eletrônicas, contribuindo diretamente com o objetivo de se tornar um laboratório-fábrica de excelência na manufatura de placas eletrônicas em pequenas séries, com qualidade e confiabilidade.

Para maiores informações sobre as ações do Consórcio, favor entrar em contato com: Engenheiro José Carlos Boareto, Coordenador da área de Introdução de Novos Produtos do LABelectron ( Este endereço de e-mail está protegido contra spambots. Você deve habilitar o JavaScript para visualizá-lo. ou 48-3954-3039)

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Local: Complexo Expoville , Joinville (Brasil)

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